(1)篩分法。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低,常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn):結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
(2)顯微鏡(圖像)法。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀,可進(jìn)行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品。缺點(diǎn):代表性差,分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,無(wú)法分析小于1um的樣品。
(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。優(yōu)點(diǎn):操作漸變,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較廣。缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng),操作比較繁瑣。
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